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EBIC Necktie Krawatte
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Über dieses Design
EBIC Necktie Krawatte
Für Ihren Fehleranalyst oder Halbleiterprozessingenieur, Elektroingenieur oder andere Freunde. Dies ist das Electron Beam Induced Current Image eines 7-nm-SRAM. Erstaunen Sie Ihre Freunde! Finden Sie Fehler und zeichnen Sie Stromflüsse in fortschrittlicher Technologie ab!
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Kundenrezensionen
4.8 von 5 Sternen Bewertung9 Bewertungen insgesamt
9 Bewertungen
Bewertungen für ähnliche Produkte
5 von 5 Sternen Bewertung
Von X.24. November 2019 • Geprüfter Kauf
Krawatte
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Wir bei der Übergabe als Geschenk sicher sehr für Überraschung sorgen. Darauf freuen wir uns. Gefällt uns sehr gut, schaut auch super aus.
5 von 5 Sternen Bewertung
Von A.3. Jänner 2012 • Geprüfter Kauf
Krawatte
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Schöne Krawatte - Bild hält was es verspricht. Schöne Farben, gute Kontraste
5 von 5 Sternen Bewertung
Von E.10. April 2020 • Geprüfter Kauf
Krawatte
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Super Qualität gutes Material. Sehr Schön und gutes Qualität
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Produkt-ID: 151177931955441320
Hergestellt am 8.11.2021, 10:18
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